Das „cRIO FaultSim6“ ermöglicht die realitätsnahe Simulation von elektrischen Kleinsignalfehlern in National Instruments Compact-RIO-Systemen. Es wurde speziell für die Simulation von Fehlerbildern in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ entwickelt.
Es kann jedoch auch eigenständig für die Simulation von Fehlerzuständen in verschiedensten Testumgebungen verwendet werden und bietet eine präzise Nachbildung von Fehlerzuständen für Funktions-, End-of-line- oder Lebensdauertests.
Technische Beschreibung
Das FaultSim6-Modul dient der Simulation von elektrischen Kleinsignalfehlern und wird zur Erweiterung der Testmöglichkeiten in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ eingesetzt. Es ermöglicht die Simulation verschiedener Fehlerbilder wie:
Kurzschluss (z. B. nach Masse oder zu einer anderen Leitung)
Leitungsunterbrechung
Störungen durch Rauschen oder Signalverzerrungen
Durch die Kombination mehrerer Module können unterschiedliche Testkonfigurationen realisiert werden. Die verschiedenen Fehlerzustände können dabei über zwei Fehlerbusse realisiert werden.
Der Fehlerbus bei einer Fehlersimulationskarte (oft in der Elektronik- und Automobilindustrie verwendet) ist ein spezielles Leitungssystem, das dazu dient, gezielt Fehlerzustände in elektrischen Schaltungen oder Steuergeräten zu simulieren.
Das „cRIO FaultSim6“ ermöglicht die realitätsnahe Simulation von elektrischen Kleinsignalfehlern in National Instruments Compact-RIO-Systemen. Es wurde speziell für die Simulation von Fehlerbildern in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ entwickelt.
Es kann jedoch auch eigenständig für die Simulation von Fehlerzuständen in verschiedensten Testumgebungen verwendet werden und bietet eine präzise Nachbildung von Fehlerzuständen für Funktions-, End-of-line- oder Lebensdauertests.
Technische Beschreibung
Das FaultSim6-Modul dient der Simulation von elektrischen Kleinsignalfehlern und wird zur Erweiterung der Testmöglichkeiten in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ eingesetzt. Es ermöglicht die Simulation verschiedener Fehlerbilder wie:
Kurzschluss (z. B. nach Masse oder zu einer anderen Leitung)
Leitungsunterbrechung
Störungen durch Rauschen oder Signalverzerrungen
Durch die Kombination mehrerer Module können unterschiedliche Testkonfigurationen realisiert werden. Die verschiedenen Fehlerzustände können dabei über zwei Fehlerbusse realisiert werden.
Der Fehlerbus bei einer Fehlersimulationskarte (oft in der Elektronik- und Automobilindustrie verwendet) ist ein spezielles Leitungssystem, das dazu dient, gezielt Fehlerzustände in elektrischen Schaltungen oder Steuergeräten zu simulieren.
Technische Spezifikation
Schaltpfade: 6
Fehlerbus: 2 Kanäle
Maximaler Schaltstrom: 1,5A
Software: Beispielsoftware für das cRIO in LabVIEW verfügbar
Anwendungsgebiete
Simulation von Fehlerbildern in Kombination mit cRIO-Modulen:
In Verbindung mit „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ ermöglicht das FaultSim6 eine präzise Simulation von Fehlerzuständen, z. B. bei Funktions-, End-of-line- und Lebensdauertests.
Eigenständige Fehlersimulation in Testumgebungen:
Das Modul kann unabhängig eingesetzt werden, um verschiedene Fehlerbilder von Kleinsignalen präzise zu simulieren und so die Robustheit und Funktionalität von Steuergeräten und Sensoren zu testen.Medizintechnik: Validierung von Geräten, die in sicherheitsrelevanten Umgebungen arbeiten.
Durch die flexible Konfiguration und die Integration in bestehende Systeme bietet das „cRIO FaultSim6“-Modul eine effiziente Lösung für die Simulation von Fehlerbildern, sowohl eigenständig als auch in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“, in verschiedenen industriellen Anwendungen.
Technische Spezifikation
Schaltpfade: 6
Fehlerbus: 2 Kanäle
Maximaler Schaltstrom: 1,5A
Software: Beispielsoftware für das cRIO in LabVIEW verfügbar
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In Verbindung mit „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“ ermöglicht das FaultSim6 eine präzise Simulation von Fehlerzuständen, z. B. bei Funktions-, End-of-line- und Lebensdauertests.
Eigenständige Fehlersimulation in Testumgebungen:
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Durch die flexible Konfiguration und die Integration in bestehende Systeme bietet das „cRIO FaultSim6“-Modul eine effiziente Lösung für die Simulation von Fehlerbildern, sowohl eigenständig als auch in Kombination mit den cRIO-Modulen „cRIO Resolver Simulator“ und „cRIO Positionssensorsimulation“, in verschiedenen industriellen Anwendungen.
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