kundenspezifische Hardwarekomponenten
Wir entwickeln kundenspezifische Hardwarekomponenten nach Ihren Anforderungen und angepasst an Ihre Umgebung. Ein besonderer Kompetenzschwerpunkt liegt dabei auf Lösungen für parallele Tests mit einer Vielzahl von Prüflingen/Kanälen.
Beispiele hierfür sind:
Messsystem zur Steuerung und Überwachung von Prüflingen mit einer Vielzahl von Anschlüssen (z.B. KFZ-Bodycontroller)
128 Analogeingänge mit Abtastraten von bis zu 1 MHz
100 Schaltausgänge (Relais, Open-Drain, Open-Collector)
10 CAN Schnittstellen
10 serielle Schnittstellen
22 digitale IOs
Testsysteme mit Stromquellen zum Pulstest von LEDs
bis zu 280 Kanäle in einem 19"-Schrank
Ströme von 100 µA bis 6 A
Pulsdauer von 1 µs bis 10 s
Testsysteme zur Charakterisierung von Batteriezellen
bis zu 240 Kanäle in einem 19"-Schrank
paralleles Laden-/Entladen der Zellen mit bis zu 10 A pro Zelle
Messung von Zellspannung, Kapazität und Innenwiderstand
Zur Realisierung dieser Systeme verwenden wir unter anderem:
Embedded-Systeme von National Instruments (PXI, cRIO, sbRIO)
Mikrocontroller von STMicroelectronics
FPGAs von Xilinx
Hochpräzise Analog-Digital-Wandler von Analog Devices
Bereits bei der Entwicklung achten wir auf ein EMV-gerechtes Hardware-Design. Die Störfestigkeit und Störaussendungen unserer Geräte überprüfen wir in unserem hausinternen EMV-Labor.
kundenspezifische Hardwarekomponenten
Wir entwickeln kundenspezifische Hardwarekomponenten nach Ihren Anforderungen und angepasst an Ihre Umgebung. Ein besonderer Kompetenzschwerpunkt liegt dabei auf Lösungen für parallele Tests mit einer Vielzahl von Prüflingen/Kanälen.
Beispiele hierfür sind:
Messsystem zur Steuerung und Überwachung von Prüflingen mit einer Vielzahl von Anschlüssen (z.B. KFZ-Bodycontroller)
128 Analogeingänge mit Abtastraten von bis zu 1 MHz
100 Schaltausgänge (Relais, Open-Drain, Open-Collector)
10 CAN Schnittstellen
10 serielle Schnittstellen
22 digitale IOs
Testsysteme mit Stromquellen zum Pulstest von LEDs
bis zu 280 Kanäle in einem 19"-Schrank
Ströme von 100 µA bis 6 A
Pulsdauer von 1 µs bis 10 s
Testsysteme zur Charakterisierung von Batteriezellen
bis zu 240 Kanäle in einem 19"-Schrank
paralleles Laden-/Entladen der Zellen mit bis zu 10 A pro Zelle
Messung von Zellspannung, Kapazität und Innenwiderstand
Zur Realisierung dieser Systeme verwenden wir unter anderem:
Embedded-Systeme von National Instruments (PXI, cRIO, sbRIO)
Mikrocontroller von STMicroelectronics
FPGAs von Xilinx
Hochpräzise Analog-Digital-Wandler von Analog Devices
Bereits bei der Entwicklung achten wir auf ein EMV-gerechtes Hardware-Design. Die Störfestigkeit und Störaussendungen unserer Geräte überprüfen wir in unserem hausinternen EMV-Labor.